试剂级过氧化氢中痕量阴离子的测定

时间:2024-09-15 03:34:53 作者:庚家妖精 综合材料 收藏本文 下载本文

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篇1:试剂级过氧化氢中痕量阴离子的测定

试剂级过氧化氢中痕量阴离子的测定

建立了过氧化氢试剂中痕量阴离子的离子色谱分析方法,样品中的.过氧化氢基体用铂丝在小烧杯中加热分解,处理后的样品溶液注入离子色谱系统进行分析测定.常见阴离子的检出限为1×10-9.Cl-和SO2-4的标准加入回收率分别为109.7%和102%.方法已成功的用于商品过氧化氢的分析.

作 者:李来丙  作者单位:湖南建材高等专科学校,化学工程系,湖南,衡阳,421008 刊 名:化学试剂  ISTIC PKU英文刊名:CHEMICAL REAGENTS 年,卷(期):2004 26(5) 分类号:O657.75 关键词:离子色谱法   过氧化氢   阴离子  

篇2:阴离子交换树脂分离甲苯萃取ICP-AES测定铋系超导粉中的痕量镍

阴离子交换树脂分离甲苯萃取ICP-AES测定铋系超导粉中的痕量镍

摘要:建立了ICP-AES测定超导粉中痕量镍的新方法.优化了仪器工作参数,对超导前驱粉中痕量镍测定时的基体干扰及干扰消除方法进行了系统研究,结果表明:大量存在的基体元素产生严重基体效应,导致测定重现性及准确度变差,实验采用分离富集方法以提高测定结果的准确度和精密度.实验中首先用阴离子交换树脂,除去Bi3+及部分pb2+,Sr2+,Ca2+,Cu2十等基体元素;在碱性条件下再通过甲苯萃取镍与丁二酮肟的络合物、稀盐酸反萃取富集镍;对分离富集条件进行了优化.对模拟标准样品进行测定,分析结果与理论值一致,相对标准偏差为1.9%,方法检出限为0.19 μg・g-1.该方法已用于超导前驱粉样品中痕量镍的分析,结果令人满意. 作者: 范丽新[1]  李建强[1]  范慧俐[1]  孙建伶[1]  张霞[1]  包蕊[2]  陆青[1]  王杰[1] Author: FAN Li-xin[1]  LI Jian-qiang[1]  FAN Hui-li[1]  SUN Jian-ling[1]  ZHANG Xia[1]  BAO Rui[2]  LU Qing[1]  WANG Jie[1] 作者单位: 北京科技大学化学系,北京,100083北京英纳超导技术有限公司,北京,100176 期 刊: 光谱学与光谱分析   ISTICEISCIPKU Journal: Spectroscopy and Spectral Analysis 年,卷(期): 2011, 31(12) 分类号: O657.3 关键词: 镍    ICP-AES    超导粉    甲苯萃取    阴离子交换树脂    机标分类号: O65 O61 机标关键词: 阴离子交换树脂    树脂分离    苯萃取    ICP-AES    测定结果    铋系    超导粉    痕量镍    Anion Exchange Resin    Atomic Emission Spectroscopy    Inductively Coupled Plasma    分离富集方法    超导前驱粉    分析结果    基体元素    准确度    相对标准偏差    方法检出限    优化    标准样品 基金项目: 国家(863计划)项目 阴离子交换树脂分离甲苯萃取ICP-AES测定铋系超导粉中的`痕量镍[期刊论文]  光谱学与光谱分析 --2011, 31(12)范丽新  李建强  范慧俐  孙建伶  张霞  包蕊  陆青  王杰建立了ICP-AES测定超导粉中痕量镍的新方法.优化了仪器工作参数,对超导前驱粉中痕量镍测定时的基体干扰及干扰消除方法进行了系统研究,结果表明:大量存在的基体元素产生严重基体效应,导致测定重现性及准确度变差,实验采...

篇3:ICP-MS法测定电子级高纯异丙醇中痕量金属杂质

ICP-MS法测定电子级高纯异丙醇中痕量金属杂质

用电感耦合等离子体-质谱(ICP-MS)的标准状态(STD)和冷焰状态(PS)测定电子级高纯异丙醇中的18个痕量金属杂质,用铟作内标可补偿基体效应.方法检出限为0.1×10-12~100×10-12,加标回收率为80%~120%,长时间相对标准偏差(RSD)小于7%.ICP-MS测定结果与ICP光谱测定结果基本一致,但ICP-MS提高了分析的准确性和工作效率.

作 者:孟蓉 郑春丽 童淑丽  作者单位:北京化学试剂研究所,北京,100022 刊 名:化学试剂  ISTIC PKU英文刊名:CHEMICAL REAGENTS 年,卷(期):2004 26(5) 分类号:O656.31 关键词:电子级高纯异丙醇   ICP-MS   痕量金属杂质  

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试剂级过氧化氢中痕量阴离子的测定(精选3篇)

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